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  Channel cracking of β-NiAl thin films on Si substrates

Wellner, P., Kraft, O., Dehm, G., Andersons, J., & Arzt, E. (2004). Channel cracking of β-NiAl thin films on Si substrates. Acta Materialia, 52(8), 2325-2336. doi:10.1016/j.actamat.2004.01.023.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-97F2-3 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-97F3-2
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Wellner, Patrick1, Autor           
Kraft, Oliver2, Autor           
Dehm, Gerhard1, Autor           
Andersons, J.3, Autor           
Arzt, Eduard1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              
2Karlsruhe Institute of Technology, Institute for Applied Materials, Engelbert-Arnold-Strasse 4, Karlsruhe, Germany, ou_persistent22              
3Institute of Polymer Mechanics, Riga, Latvia, persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2004-05-03
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 175371
DOI: 10.1016/j.actamat.2004.01.023
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Acta Materialia
  Kurztitel : Acta Mater.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Kidlington : Elsevier Science
Seiten: - Band / Heft: 52 (8) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 2325 - 2336 Identifikator: ISSN: 1359-6454
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954928603100