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  Atomic Resolution Microscopy of Intermetallic Clathrates

Ramlau, R., Grin, J., & Sawada, H. (2016). Atomic Resolution Microscopy of Intermetallic Clathrates. JEOL News, Electron Optics Instrumentation, 51(1), 2-6.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002C-3C0E-5 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-F813-2
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Ramlau, Reiner1, Autor           
Grin, Juri2, Autor           
Sawada, Hidetaka3, Autor
Affiliations:
1Chemical Metal Science, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society, ou_1863405              
2Juri Grin, Chemical Metal Science, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society, ou_1863413              
3External Organizations, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2016-07-012016-07-01
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: JEOL News, Electron Optics Instrumentation
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Tokyo : JEOL Ltd.
Seiten: - Band / Heft: 51 (1) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 2 - 6 Identifikator: ISSN: 0385-4426
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/958480262807