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  Combined Atom probe tomography, Electron backscattering diffraction and Transmission electron microscopy experiments of Ag16.7Sb30Te53.3 bulk thermoelectric material

Abdellaoui, L., Cojocaru-Mirédin, O., Nagli, M., Amouyal, Y., Yu, Y., Zhang, S., Raabe, D., Wuttig, M., & Scheu, C. (2016). Combined Atom probe tomography, Electron backscattering diffraction and Transmission electron microscopy experiments of Ag16.7Sb30Te53.3 bulk thermoelectric material. Poster presented at MSE 2016, Darmstadt, Germany.

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基本情報

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資料種別: ポスター

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作成者

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 作成者:
Abdellaoui, Lamya1, 著者           
Cojocaru-Mirédin, Oana2, 著者           
Nagli, Michael3, 著者           
Amouyal, Yaron3, 著者           
Yu, Yuan4, 著者           
Zhang, Siyuan1, 著者           
Raabe, Dierk5, 著者           
Wuttig, Matthias6, 著者           
Scheu, Christina1, 著者           
所属:
1Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294              
2I. Physikalisches Institut (IA), RWTH Aachen, 52074 Aachen, Germany, persistent22              
3Technion, Israel Institute of Technology, Haifa, Israel, persistent22              
4RWTH Aachen University, I. Physikalisches Institut IA, 52056 Aachen, Germany, persistent22              
5Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381              
6RWTH Aachen University, I. Physikalisches Institut IA, 52056 Aachen, Germany, ou_persistent22              

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2016-09
 出版の状態: 不明
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子(DOI, ISBNなど): -
 学位: -

関連イベント

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イベント名: MSE 2016
開催地: Darmstadt, Germany
開始日・終了日: 2016-09-27 - 2016-09-29

訴訟

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Project information

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出版物

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