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  Structural analysis of Bi2Te3 superlattices epitaxially grown on BaF2 by transmission electron microscopy

Peranio, N., Eibl, O., & Nurnus, J. (2005). Structural analysis of Bi2Te3 superlattices epitaxially grown on BaF2 by transmission electron microscopy. In ICT2004. Piscataway, NJ, USA: IEEE.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-62EB-1 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-62ED-E
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Peranio, N.1, Autor           
Eibl, O., Autor
Nurnus, J., Autor
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2005
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 321578
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 23th International Conference on Thermoelectrics (ICT2004)
Veranstaltungsort: Adelaide, Australia
Start-/Enddatum: -

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: ICT2004
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Piscataway, NJ, USA : IEEE
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: ISBN: 1424401283