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  Implantation into fullerites

Misof, K., Vogl, G., Fratzl, P., Sielemann, R., Keck, B., & Yoshida, Y. (1993). Implantation into fullerites. In Springer Series in Solid-State Sciences (pp. 44-47). Berlin: Springer.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0003-9291-3 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0003-FBF5-E
Genre: Buchkapitel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Misof, K., Autor
Vogl, G., Autor
Fratzl, Peter1, Autor           
Sielemann, R., Autor
Keck, B., Autor
Yoshida, Y., Autor
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 1993
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1007/978-3-642-85049-3_5
PMID: 0040
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Springer Series in Solid-State Sciences
Genre der Quelle: Reihe
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Berlin : Springer
Seiten: - Band / Heft: 117 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 44 - 47 Identifikator: -

Quelle 2

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Titel: Electronic Properties of Fullerenes
Genre der Quelle: Buch
 Urheber:
Kuzmany, Hans, Herausgeber
Fink, Jörg, Herausgeber
Mehring, Michael, Autor
Roth, Siegmar, Autor
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: ISBN: 978-3-642-85051-6