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  A joint first principles and Kelvin Probe Force Microscopy study of stepped Silicon Surfaces with Unprecedented Resolution

Pérez León, C., Drees, H., Marz, M., Wippermann, S. M., & Hoffmann-Vogel, R. (2015). A joint first principles and Kelvin Probe Force Microscopy study of stepped Silicon Surfaces with Unprecedented Resolution. Talk presented at APS March Meeting 2015. San Antonio, TX, USA. 2015-03-02 - 2015-03-06.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Pérez León, Carmen1, Autor           
Drees, Holger1, Autor           
Marz, Michael1, Autor           
Wippermann, Stefan Martin2, Autor           
Hoffmann-Vogel, Regina1, Autor           
Affiliations:
1Physikalisches Institut, Karlsruhe Institute of Technology (KIT), Wolfgang-Gaede-Str. 1, D-76131 Karlsruhe, Germany, ou_persistent22              
2Atomistic Modelling, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863350              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2015-03
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: APS March Meeting 2015
Veranstaltungsort: San Antonio, TX, USA
Start-/Enddatum: 2015-03-02 - 2015-03-06

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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