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  Recognizing 60 years of achievements in field emission and atomic scale microscopy: Reflections on the International Field Emission Society

Cairney, J. M., Gault, B., & Larson, D. J. (2016). Recognizing 60 years of achievements in field emission and atomic scale microscopy: Reflections on the International Field Emission Society. Materials Today, 19(4), 182-183. doi:10.1016/j.mattod.2016.01.019.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002A-CB1E-E Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002A-CB1F-C
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Cairney, Julie M.1, Autor           
Gault, Baptiste2, Autor           
Larson, David J.3, Autor           
Affiliations:
1Australian Centre for Microscopy and Microanalysis, The University of Sydney, NSW 2006, Australia, ou_persistent22              
2Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384              
3CAMECA Instruments Inc., 5500 Nobel Drive, Madison, WI, USA, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2016-02-192016-05
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1016/j.mattod.2016.01.019
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Materials Today
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 19 (4) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 182 - 183 Identifikator: ISSN: 1369-7021
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/1369-7021