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  Transmission X-ray microscopy using X-MCD

Eimüller, T., Fischer, P., Köhler, M., Scholz, M., Guttmann, P., Denbeaux, G., et al. (2001). Transmission X-ray microscopy using X-MCD. Applied Physics A, 73, 697-701.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-49EA-F Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-49EB-D
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Eimüller, T.1, Autor           
Fischer, P.1, Autor           
Köhler, M., Autor
Scholz, M., Autor
Guttmann, P., Autor
Denbeaux, G., Autor
Glück, S., Autor
Bayreuther, G., Autor
Schmahl, G., Autor
Attwood, D., Autor
Schütz, G.1, Autor           
Affiliations:
1Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Schütz;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2001
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 250765
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics A
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 73 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 697 - 701 Identifikator: -