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  Microscopic ellipsometry: Imaging monolayer on arbitrary reflecting supports

Harke, M., Stelzle, M., & Motschmann, H. R. (1996). Microscopic ellipsometry: Imaging monolayer on arbitrary reflecting supports. Thin Solid Films, 284/285, 412-416. doi:10.1016/S0040-6090(95)08354-5.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0015-74B1-7 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0003-12C4-B
Genre: Zeitschriftenartikel

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:
376611.pdf (Verlagsversion), 520KB
 
Datei-Permalink:
-
Name:
376611.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Eingeschränkt (Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, MTKG; )
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
-
Copyright Info:
eDoc_access: INSTITUT
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Harke, M.1, Autor           
Stelzle, M.1, Autor           
Motschmann, H. R.1, Autor           
Affiliations:
1Grenzflächen, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society, ou_1863287              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 1996
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 376611
ISI: A1996VV92800101
DOI: 10.1016/S0040-6090(95)08354-5
 Art des Abschluß: -

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Thin Solid Films
  Kurztitel : Thin Solid Films
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Lausanne, Switzerland, etc. : Elsevier
Seiten: - Band / Heft: 284/285 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 412 - 416 Identifikator: ISSN: 0040-6090