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  Electron Energy-Loss Near-Edge Structure of Metal-Alumina Interfaces

Scheu, C., Dehm, G., Müllejans, H., Brydson, R., & Rühle, M. (1995). Electron Energy-Loss Near-Edge Structure of Metal-Alumina Interfaces. Microscopy Microanalysis Microstructures, 6(1), 19-31. doi:10.1051/mmm:1995104.

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Basisdaten

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Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Scheu, Christina1, Autor           
Dehm, Gerhard2, Autor           
Müllejans, Harald1, Autor           
Brydson, Rik3, Autor           
Rühle, Manfred1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              
3Department of Materials Science and Engineering, University of Surrey, Guildford GU2 5XH, U.K., persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 1995-02
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1051/mmm:1995104
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy Microanalysis Microstructures
  Andere : The European Physical Journal - Applied Physics
  Kurztitel : Microsc. Microanal. Microstruct.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: France : Société Française des Microscopies
Seiten: - Band / Heft: 6 (1) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 19 - 31 Identifikator: ISSN: 1154-2799
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/1154-2799