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  High viscosity environments: an unexpected route to obtain true atomic resolution with atomic force microscopy

Weber, S. A. L., Kilpatrick, J. I., Brosnan, T. M., Jarvis, S. P., & Rodriguez, B. J. (2014). High viscosity environments: an unexpected route to obtain true atomic resolution with atomic force microscopy. Nanotechnology, 25: 175701. doi:10.1088/0957-4484/25/17/175701.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-8C92-2 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-8C94-D
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Weber, Stefan A. L.1, Autor           
Kilpatrick, J. I., Autor
Brosnan, T. M., Autor
Jarvis, S. P., Autor
Rodriguez, B. J., Autor
Affiliations:
1Dept. Butt: Physics at Interfaces, MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1800286              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2014
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1088/0957-4484/25/17/175701
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Nanotechnology
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Bristol, UK : IOP Pub.
Seiten: 17 Band / Heft: 25 Artikelnummer: 175701 Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 0957-4484
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925577042