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  On Strong Scaling Open Source Tools for Mining Atom Probe Tomography Data

Kühbach, M., Bajaj, P., Breen, A. J., Jägle, E. A., & Gault, B. (2019). On Strong Scaling Open Source Tools for Mining Atom Probe Tomography Data. Microscopy and Microanalysis, 25(S2 ), 298-299. doi:10.1017/S1431927619002228.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0005-4244-4 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0005-4245-3
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Kühbach, Markus1, Autor           
Bajaj, Priyanshu2, Autor           
Breen, Andrew J.3, Autor           
Jägle, Eric Aimé2, Autor           
Gault, Baptiste3, Autor           
Affiliations:
1Theory and Simulation, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863392              
2Alloys for Additive Manufacturing, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2117289              
3Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2019-08
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1017/S1431927619002228
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy and Microanalysis
  Kurztitel : Microsc. Microanal.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: New York, NY : Cambridge University Press
Seiten: - Band / Heft: 25 (S2 ) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 298 - 299 Identifikator: ISSN: 1431-9276
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/991042731793414