In situ mechanical testing in electron microscopes to study small scale 
deformation mechanisms

Kiener, D.; Oh, S. H.; Lee, S.; Jeong, J.; Minor, A. M.; Kunz, M.; Tamura, N.; Gruber, P. A.; Hoo, R. P.; Kirchlechner, C.; Alfreider, M.; Treml, R.

In situ mechanical testing in electron microscopes to study small scale deformation mechanisms

Kiener, D., Oh, S. H., Lee, S., Jeong, J., Minor, A. M., Kunz, M., Tamura, N., Gruber, P. A., Hoo, R. P., Kirchlechner, C., Alfreider, M., & Treml, R. (2013). In situ mechanical testing in electron microscopes to study small scale deformation mechanisms. Talk presented at ECI on Nanomechanical Testing 2013. Olhão (Algarve), Portugal. 2013-10-06 - 2013-10-11.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-20FA-7 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-41B2-3

資料種別: 講演

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Kiener, D.¹, 著者
Oh, S. H., 著者
Lee, S.², 著者
Jeong, J., 著者
Minor, A. M., 著者
Kunz, M., 著者
Tamura, N., 著者
Gruber, P. A., 著者
Hoo, R. P., 著者
Kirchlechner, C.³, 著者
Alfreider, M., 著者
Treml, R., 著者

所属:
1Max Planck Society, ou_persistent13
2External Organizations, ou_persistent22
3Nano-/Micromechanics of Materials, Structure and Micro-/Nanomechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863401

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言語: eng - English

日付: 作成: 2013-10

出版の状態: 不明

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 669716

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