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  Determination of Image Aberrations in High-resolution Electron Microscopy using Diffractogram and Cross-correlation Methods

Typke, D., & Dierksen, K. (1995). Determination of Image Aberrations in High-resolution Electron Microscopy using Diffractogram and Cross-correlation Methods. Optik, 99, 155-166.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-7359-C Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-735A-A
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Typke, D.1, Autor           
Dierksen, K., Autor
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 1995
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 318468
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Optik
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 99 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 155 - 166 Identifikator: -