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  New Applications to Atom Probe Tomography: Insights on Trace Element Diffusion in Naturally Deformed Minerals

Dubosq, R., Gault, B., Rogowitz, A., Schweinar, K., Zaefferer, S., & Schneider, D. (2019). New Applications to Atom Probe Tomography: Insights on Trace Element Diffusion in Naturally Deformed Minerals. Microscopy and Microanalysis, 25(S2), 2498-2499. doi:10.1017/S1431927619013229.

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Basisdaten

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Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Dubosq, Renelle1, Autor           
Gault, Baptiste2, 3, Autor           
Rogowitz, Anna4, Autor           
Schweinar, Kevin2, Autor           
Zaefferer, Stefan5, Autor           
Schneider, David1, Autor           
Affiliations:
1Department of Earth and Environmental Sciences, University of Ottawa, Ottawa, Canada, ou_persistent22              
2Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384              
3Department of Materials, Royal School of Mines, Imperial College London, London, UK, ou_persistent22              
4Department of Geodynamics and Sedimentology, University of Vienna, Vienna, Austria, ou_persistent22              
5Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2019-08-052019-08
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1017/S1431927619013229
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy and Microanalysis
  Kurztitel : Microsc. Microanal.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 25 (S2) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 2498 - 2499 Identifikator: ISSN: 1431-9276
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/991042731793414