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  EEG feature extraction using parametric and non-parametric models

Shiman, F., Safavi, S., Molaei-Vaneghi, F., Oladazimi, M., Safari, M., & Ibrahim, F. (2012). EEG feature extraction using parametric and non-parametric models. In 2012 IEEE-EMBS International Conference on Biomedical and Health Informatics (pp. 66-70). Piscataway, NJ, USA: IEEE.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-8F67-B Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-8F68-A
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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externe Referenz:
https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6211507 (Verlagsversion)
Beschreibung:
-
OA-Status:

Urheber

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 Urheber:
Shiman, F, Autor
Safavi, SH, Autor
Molaei-Vaneghi, F1, Autor           
Oladazimi, M, Autor
Safari, MJ, Autor
Ibrahim, F, Autor
Affiliations:
1Medical Informatics and Biological Electro-Mechanical-Systems (MIMEMS), Specialized Laboratory, Department of Biomedical Engineering, Faculty of Engineering, University of Malaya, Kuala Lumpur, Malaysia, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: We have conducted extensive review on parametric and nonparametric methods for EEG feature extraction and application. We believe that this is the first attempt to compare all methods. Our findings indicate that parametric method does not provide good performance for EEG signal while non-parametric method lack of detail information on the EEG analysis.

Details

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Sprache(n):
 Datum: 2012-01
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: IEEE-EMBS International Conference on Biomedical and Health Informatics (BHI 2012)
Veranstaltungsort: Hong Kong, Shenzhen, China
Start-/Enddatum: 2012-01-05 - 2012-01-07

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: 2012 IEEE-EMBS International Conference on Biomedical and Health Informatics
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Piscataway, NJ, USA : IEEE
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 66 - 70 Identifikator: ISBN: 978-1-4577-2177-9