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  Fabrication and characterization of a focused ion beam milled lanthanum hexaboride based cold field electron emitter source

Singh, G., Bücker, R., Kassier, G., Barthelmess, M., Zheng, F., Migunov, V., et al. (2018). Fabrication and characterization of a focused ion beam milled lanthanum hexaboride based cold field electron emitter source. Applied Physics Letters, 113(9): 093101. doi:10.1063/1.5039441.

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Genre: Zeitschriftenartikel

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1.5039441.pdf (Verlagsversion), 2MB
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1.5039441.pdf
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-
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Öffentlich
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf / [MD5]
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2018
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© the Author(s)
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Supplements.zip
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Supplemental: figs1.pdf; figs2.pdf; supplementary article.docx
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Öffentlich
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application/zip / [MD5]
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
-
Copyright Info:
-
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Externe Referenzen

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externe Referenz:
https://dx.doi.org/10.1063/1.5039441 (Verlagsversion)
Beschreibung:
-
OA-Status:

Urheber

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 Urheber:
Singh, G.1, Autor           
Bücker, R.1, Autor           
Kassier, G.1, Autor           
Barthelmess, M.2, Autor
Zheng, F.3, Autor
Migunov, V.3, 4, Autor
Kruth, M.3, Autor
Dunin-Borkowski, R. E.3, Autor
Purcell, S. T.5, Autor
Miller, R. J. D.1, 6, Autor           
Affiliations:
1Miller Group, Atomically Resolved Dynamics Department, Max Planck Institute for the Structure and Dynamics of Matter, Max Planck Society, ou_1938288              
2Center for Free Electron Laser Science, DESY, ou_persistent22              
3Ernst Ruska-Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons and Peter Grünberg Institute, Forschungszentrum Jülich, ou_persistent22              
4Central Facility for Electron Microscopy, RWTH Aachen University, ou_persistent22              
5Institute Lumière Matière, Université Claude Bernard Lyon 1 et CNRS, ou_persistent22              
6Department of Chemistry and Physics, University of Toronto, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: We report on a method of fabricating lanthanum hexaboride (LaB6) cold field emission tips with sub-100-nm apices by using a combination of electrochemical etching and focused ion beam milling. The primary advantage of combining the two methods is rapid fabrication while maintaining reproducibility. The LaB6 tips have low work functions and high mechanical stabilities and are chemically inert to residual gases. Field emission characterization was performed on three tips, with apex sizes of 15, 85, and 80 nm yielding 10 nA cold field emission currents at 0.76, 3.9, and 3.6 kV extraction potentials, respectively. All three tips showed excellent emission current stability for periods exceeding 30 min in a 5 × 10−9 mbar vacuum.

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2018-05-082018-08-012018-08-272018-08-27
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1063/1.5039441
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics Letters
  Kurztitel : Appl. Phys. Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Melville, NY : American Institute of Physics
Seiten: - Band / Heft: 113 (9) Artikelnummer: 093101 Start- / Endseite: - Identifikator: Anderer: 0003-6951
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954922836223