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  Boron analysis using EDX in SEM and TEM

Birajdar, B., Peranio, N., & Eibl, O. (2007). Boron analysis using EDX in SEM and TEM. Microscopy and Microanalysis, 13(3), 290-291.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-5514-A Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-5516-6
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Birajdar, B., Autor
Peranio, N.1, Autor           
Eibl, O., Autor
Affiliations:
1Theory and Simulation, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863392              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2007
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 321587
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie: Microscopy conference 2007
Veranstaltungsort: Saarbrücken, Germany
Start-/Enddatum: 2007

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy and Microanalysis
  Alternativer Titel : Microsc. Microanal.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 13 (3) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 290 - 291 Identifikator: ISSN: 1431-9276