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  Parametric Model Order Reduction for Electro-Thermal Coupled Problems

Feng, L., & Benner, P. (2019). Parametric Model Order Reduction for Electro-Thermal Coupled Problems. In E. J. W. ter Maten, H.-G. Brachtendorf, R. Pulch, W. Schoenmaer, & H. De Gersem (Eds.), Nanoelectronic Coupled Problems Solutions (pp. 293-309). Cham, Switzerland: Springer.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Feng, Lihong1, Autor           
Benner, Peter1, Autor           
Affiliations:
1Computational Methods in Systems and Control Theory, Max Planck Institute for Dynamics of Complex Technical Systems, Max Planck Society, ou_1738141              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 2019
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1007/978-3-030-30726-4_13
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Nanoelectronic Coupled Problems Solutions
Genre der Quelle: Buch
 Urheber:
ter Maten, E. J. W., Herausgeber
Brachtendorf, H.-G., Herausgeber
Pulch, R., Herausgeber
Schoenmaer, W., Herausgeber
De Gersem, H., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: Cham, Switzerland : Springer
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 293 - 309 Identifikator: ISBN: 978-3-030-30726-4
DOI: 10.1007/978-3-030-30726-4
ISBN: 978-3-030-30725-7

Quelle 2

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Titel: The European Consortium for Mathematics in Industry
Genre der Quelle: Reihe
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Cham, Switzerland : Springer Nature
Seiten: - Band / Heft: 29 Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: -