Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

 
 
DownloadE-Mail
  Investigation of the fatigue behavior of Al thin films with different microstructure

Heinz, W., Pippan, R., & Dehm, G. (2010). Investigation of the fatigue behavior of Al thin films with different microstructure. Materials Science and Engineering A: Structural Materials Properties Microstructure and Processing, 527(29-30), 7757-7763. doi:10.1016/j.msea.2010.08.046.

Item is

Basisdaten

einblenden: ausblenden:
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Heinz, Walther1, Autor           
Pippan, Reinhard1, Autor           
Dehm, Gerhard1, 2, Autor           
Affiliations:
1Erich Schmid Institute of Material Science, Austrian Academy of Sciences, Leoben, Austria, ou_persistent22              
2Department of Materials Physics, Montanuniversität Leoben, Austria, ou_persistent22              

Inhalt

einblenden:

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum: 2010-11-15
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1016/j.msea.2010.08.046
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle 1

einblenden:
ausblenden:
Titel: Materials Science and Engineering A: Structural Materials Properties Microstructure and Processing
  Kurztitel : Mater. Sci. Eng. A: Struct. Mater. Prop. Microstruct. Process.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 527 (29-30) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 7757 - 7763 Identifikator: ISSN: 0921-5093
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954928498465_1