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  Advanced analysis of 3D EBSD data obtained from FIB-EBSD tomography

Zaefferer, S., & Konijnenberg, P. (2012). Advanced analysis of 3D EBSD data obtained from FIB-EBSD tomography. In J. Shields, S. McKernan, L. Brewer, T. Ruiz, & D. Turnquist (Eds.), Proceedings of M&M 2012 (pp. 520-521). Microscopy Society of America.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-2DC1-C Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-2DC3-8
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Zaefferer, S.1, Autor           
Konijnenberg, P.1, Autor           
Affiliations:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2012
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 624819
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Microscopy & Microanalysis 2012
Veranstaltungsort: Phoenix, AZ, USA
Start-/Enddatum: 2012-07-29 - 2012-08-02

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Proceedings of M&M 2012
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Shields, J., Herausgeber
McKernan, S., Herausgeber
Brewer, L., Herausgeber
Ruiz, T., Herausgeber
Turnquist, D., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: Microscopy Society of America
Seiten: CD-ROM Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 520 - 521 Identifikator: -