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  Temperature induced faceted hole formation in epitaxial Al thin films on sapphire

Hieke, S. W., Dehm, G., & Scheu, C. (2015). Temperature induced faceted hole formation in epitaxial Al thin films on sapphire. Talk presented at Understanding Grain Boundary Migration: Theory Meets Experiment. Günzburg/Donau, Germany. 2015-06-21 - 2015-06-24.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Hieke, Stefan Werner1, 2, Autor           
Dehm, Gerhard3, Autor           
Scheu, Christina1, Autor           
Affiliations:
1Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294              
2Advanced Transmission Electron Microscopy, Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863399              
3Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863398              

Inhalt

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Schlagwörter: Speaker: Dehm, G.
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2015-06
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Understanding Grain Boundary Migration: Theory Meets Experiment
Veranstaltungsort: Günzburg/Donau, Germany
Start-/Enddatum: 2015-06-21 - 2015-06-24

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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