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  Measurement of the Interfacial Shear Strength of Thin Copper Films on Sapphire by Microindentation Experiments

Dehm, G., Raj, R., & Rühle, M. (2011). Measurement of the Interfacial Shear Strength of Thin Copper Films on Sapphire by Microindentation Experiments. In Materials Research Symposium Proceedings 1996 (Symposium I – Polycrystalline Thin Films: Structure, Texture, Properties and Applications II) (pp. 151-156). Boston, MA, USA: Materials Research Society. doi:10.1557/PROC-403-151.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-998F-2 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-9990-F
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Dehm, Gerhard1, Autor           
Raj, Rishi2, Autor           
Rühle, Manfred3, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              
2Department of Materials Science and Engineering, Cornell University, Bard Hall, Ithaca, NY, 14853-1501, USA, persistent22              
3Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 19962011-02-152011
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1557/PROC-403-151
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 1996 MRS Fall Meeting & Exhibit
Veranstaltungsort: Boston, MA, USA
Start-/Enddatum: 1996-12-02 - 1996-12-06

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Materials Research Symposium Proceedings 1996 (Symposium I – Polycrystalline Thin Films: Structure, Texture, Properties and Applications II)
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Boston, MA, USA : Materials Research Society
Seiten: - Band / Heft: 403 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 151 - 156 Identifikator: -