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  The Freiburg Electron Beam Ion Trap/Source Project: FREBIT

Crespo López-Urrutia, J., Bapat, B., Dorn, A., Moshammer, R., Schröter, C., & Ullrich, J. (2001). The Freiburg Electron Beam Ion Trap/Source Project: FREBIT. In J. Gillaspy (Ed.), Trapping Highly Charged Ions: Fundamentals and Applications (pp. 103). Huntington, New York: Nova Science Publishers.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0011-85C3-F Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0011-85C4-D
Genre: Buchkapitel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Crespo López-Urrutia, J.R.1, Autor           
Bapat, B.1, Autor           
Dorn, A.1, Autor           
Moshammer, R.1, Autor           
Schröter, C.D.1, Autor           
Ullrich, J.1, Autor           
Affiliations:
1Division Prof. Dr. Joachim H. Ullrich, MPI for Nuclear Physics, Max Planck Society, ou_904547              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2001
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 60281
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Trapping Highly Charged Ions: Fundamentals and Applications
Genre der Quelle: Buch
 Urheber:
Gillaspy, J.D., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: Huntington, New York : Nova Science Publishers
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 103 Identifikator: ISBN: 1-560-72725-X