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  Transmission electron microscopy of fluorapatite-gelatine composite particles prepared using focused ion beam milling

Volkert, C. A., Busch, S., Heiland, B., & Dehm, G. (2004). Transmission electron microscopy of fluorapatite-gelatine composite particles prepared using focused ion beam milling. Journal of Microscopy, 214(3), 208-212. doi:10.1111/j.0022-2720.2004.01352.x.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-97FA-B Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-97FB-A
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Volkert, Cynthia A.1, 2, Autor           
Busch, Susanne3, Autor           
Heiland, Birgit1, Autor           
Dehm, Gerhard1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              
2Institut für Materialforschung II, Forschungszentrum Karlsruhe, 76021 Karlsruhe, Germany, persistent22              
3Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society, ou_1863404              

Inhalt

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Schlagwörter: apatite; FIB; focused ion beam milling; TEM sample preparation; tooth enamel; ultramicrotomy
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2004-06
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 220192
ISI: 000221536000002
DOI: 10.1111/j.0022-2720.2004.01352.x
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Microscopy
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Oxford : Blackwell Science
Seiten: - Band / Heft: 214 (3) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 208 - 212 Identifikator: ISSN: 0022-2720
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954927663105_2