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  Know your full potential: Quantitative Kelvin probe force microscopy on nanoscale electrical devices

Axt, A., Hermes, I. M., Bergmann, V. W., Tausendpfund, N., & Weber, S. A. L. (2018). Know your full potential: Quantitative Kelvin probe force microscopy on nanoscale electrical devices. Beilstein Journal of Nanotechnology, 9, 1809-1819. doi:10.3762/bjnano.9.172.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-A977-B Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-A978-A
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Axt, Amelie1, Autor           
Hermes, Ilka M.1, Autor           
Bergmann, Victor W.1, Autor           
Tausendpfund, N., Autor
Weber, Stefan A. L.1, Autor           
Affiliations:
1Dept. Butt: Physics at Interfaces, MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1800286              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2018
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.3762/bjnano.9.172
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Beilstein Journal of Nanotechnology
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Frankfurt am Main : Beilstein-Institut
Seiten: - Band / Heft: 9 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1809 - 1819 Identifikator: ISSN: 2190-4286
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/2190-4286