Texture evolution and solid state dewetting of passivated Al thin films on Al2O3

Hieke, Stefan Werner; Dehm, Gerhard; Scheu, Christina

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Texture evolution and solid state dewetting of passivated Al thin films on Al₂O₃

Hieke, S. W., Dehm, G., & Scheu, C. (2017). Texture evolution and solid state dewetting of passivated Al thin films on Al₂O₃. Poster presented at International GRK 1896 Satellite Symposium "In Situ Microscopy with Electrons, X-rays and Scanning Probes", Erlangen, Germany.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002E-05C6-1 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-6BF9-F

資料種別: ポスター

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Hieke, Stefan Werner¹, 著者
Dehm, Gerhard², 著者
Scheu, Christina¹, 著者

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1Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294
2Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863398

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言語: eng - English

日付: 作成: 2017-10-09

出版の状態: 不明

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