Microstructural evolution and solid state dewetting of epitaxial Al thin films 
on sapphire (α-Al2O3)

Hieke, Stefan Werner; Breitbach, Benjamin; Dehm, Gerhard; Scheu, Christina

doi:10.1016/j.actamat.2017.05.026

Microstructural evolution and solid state dewetting of epitaxial Al thin films on sapphire (α-Al₂O₃)

Hieke, S. W., Breitbach, B., Dehm, G., & Scheu, C. (2017). Microstructural evolution and solid state dewetting of epitaxial Al thin films on sapphire (α-Al₂O₃). Acta Materialia, 133, 356-366. doi:10.1016/j.actamat.2017.05.026.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-A86C-0 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-6C3A-6

資料種別: 学術論文

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Hieke, Stefan Werner¹, 著者
Breitbach, Benjamin², 著者
Dehm, Gerhard², 著者
Scheu, Christina¹, 著者

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1Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294
2Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863398

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言語: eng - English

日付: オンライン出版: 2017-05-17出版: 2017-07

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識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1016/j.actamat.2017.05.026

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出版物名: Acta Materialia

省略形 : Acta Mater.

種別: 学術雑誌

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ページ: - 巻号: 133 通巻号: - 開始・終了ページ: 356 - 366 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 1359-6454
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954928603100

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