Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT

DownloadE-Mail

Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht

Advances in in-situ testing in scanning electron microscopes: probing mechanical properties at the nano/micro-scale

Motz, C., Kiener, D., Kirchlechner, C., Grosinger, W., Pippan, R., & Dehm, G. (2011). Advances in in-situ testing in scanning electron microscopes: probing mechanical properties at the nano/micro-scale. In 10th Multinational Congress on Microscopy (MCM 2011) (pp. 57-58).

Item is Freigegeben

einblenden: alle ausblenden: alle

Basisdaten

einblenden: ausblenden:

Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-001A-23C9-0 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-001A-2457-8

Genre: Konferenzbeitrag

Alternativer Titel :

Dateien

einblenden: Dateien

Externe Referenzen

Urheber

ausblenden:

Urheber:
Motz, C.¹, Autor
Kiener, D.¹, Autor
Kirchlechner, C.¹, Autor
Grosinger, W.¹, Autor
Pippan, R.¹, Autor
Dehm, G.¹, Autor

Affiliations:
1Department of Materials Physics, Montanuniversität Leoben, Leoben, Austria, ou_persistent22

Inhalt

Details

ausblenden:

Sprache(n):

Datum: Erschienen: 2011-09-09

Publikationsstatus: Erschienen

Seiten: -

Ort, Verlag, Ausgabe: -

Inhaltsverzeichnis: -

Art der Begutachtung: -

Identifikatoren: -

Art des Abschluß: -

Veranstaltung

ausblenden:

Titel: 10th Multinational Congress on Microscopy (MCM 2011)

Veranstaltungsort: -

Start-/Enddatum: -

Entscheidung

Projektinformation

Quelle 1

ausblenden:

Titel: 10th Multinational Congress on Microscopy (MCM 2011)

Genre der Quelle: Konferenzband

Urheber:

Affiliations:

Ort, Verlag, Ausgabe: -

Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 57 - 58 Identifikator: -