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  A Statistical Approach to Plasma Profile Analysis.

Kardaun, O. J. W. F., Riedel, K. S., McCarthy, P. J., & Lackner, K.(1990). A Statistical Approach to Plasma Profile Analysis. (IPP 5/35). Garching (DE): Max-Planck-Institut für Plasmaphysik.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0027-6505-B Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0027-6506-9
Genre: Bericht

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:
IPP_5_35.1.pdf (beliebiger Volltext), 35MB
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Datei-Permalink:
https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0027-6507-7
Name:
IPP_5_35.1.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Öffentlich
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf / [MD5]
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Copyright Datum:
-
Copyright Info:
eDoc_access: PUBLIC
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Kardaun, O. J. W. F.1, Autor           
Riedel, K. S.2, Autor
McCarthy, P. J.1, Autor           
Lackner, K.1, Autor           
Affiliations:
1Tokamak Theory (TOK), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856309              
2New York University, 251 Mercer Str., New York, USA. University College, Cork, Ireland., ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 1990
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 40 pp.
 Ort, Verlag, Ausgabe: Garching (DE) : Max-Planck-Institut für Plasmaphysik
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 655537
Reportnr.: IPP 5/35
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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