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  High-Precision Metrology of Highly Charged Ions via Relativistic Resonance Fluorescence

Postavaru, O., Harman, Z., & Keitel, C. H. (2011). High-Precision Metrology of Highly Charged Ions via Relativistic Resonance Fluorescence. Physical Review Letters, 106(3): 033001. doi:10.1103/PhysRevLett.106.033001.

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Externe Referenzen

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externe Referenz:
http://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevLett.106.033001 (Verlagsversion)
Beschreibung:
-
OA-Status:

Urheber

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 Urheber:
Postavaru, Octavian1, Autor           
Harman, Zoltan1, Autor           
Keitel, Christoph H.1, Autor           
Affiliations:
1Division Prof. Dr. Christoph H. Keitel, MPI for Nuclear Physics, Max Planck Society, ou_904546              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 2011-01-18
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 4 pages
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1103/PhysRevLett.106.033001
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Physical Review Letters
  Andere : Phys. Rev. Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Woodbury, N.Y., etc. : American Physical Society.
Seiten: - Band / Heft: 106 (3) Artikelnummer: 033001 Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 0031-9007
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925433406