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  Measurements of high energy loss rates of fast highly charged U ions channeled in thin silicon crystals

Ray, C., Braeuning-Demian, A., Braeuning, H., Chevallier, M., Cohen, C., Dauvergne, D., L'Hoir, A., Kozhuharov, C., Liesen, D., Mokler, P. H., Poizat, J.-.-C., Stoehlker, T., Testa, E., & Toulemonde, M. (2011). Measurements of high energy loss rates of fast highly charged U ions channeled in thin silicon crystals. Physical review B, 84(2):. doi:10.1103/PhysRevB.84.024119.

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基本情報

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資料種別: 学術論文

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 作成者:
Ray, C.1, 著者
Braeuning-Demian, A.1, 著者
Braeuning, H.1, 著者
Chevallier, M.1, 著者
Cohen, C.1, 著者
Dauvergne, D.1, 著者
L'Hoir, A.1, 著者
Kozhuharov, C.1, 著者
Liesen, D.1, 著者
Mokler, P. H.2, 著者           
Poizat, J. -C.1, 著者
Stoehlker, Th1, 著者
Testa, E.1, 著者
Toulemonde, M.1, 著者
所属:
1External Organizations, ou_persistent22              
2Division Prof. Dr. Joachim H. Ullrich, MPI for Nuclear Physics, Max Planck Society, ou_904547              

内容説明

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資料詳細

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言語:
 日付: 20112011
 出版の状態: 出版
 ページ: 5
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子(DOI, ISBNなど): ISI: 000292873700001
DOI: 10.1103/PhysRevB.84.024119
 学位: -

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出版物 1

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出版物名: Physical review B
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Woodbury, NY : Published by the American Physical Society through the American Institute of Physics
ページ: - 巻号: 84 (2) 通巻号: 024119 開始・終了ページ: - 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): ISSN: 1098-0121
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925225008