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  Adaptive sampling of reflectance fields

Fuchs, M., Blanz, V., Lensch, H. P. A., & Seidel, H.-P. (2007). Adaptive sampling of reflectance fields. ACM Transactions on Graphics, 26(2), 10.1-18. doi:10.1145/1243980.1243984.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-1DDC-C 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-1DDD-A
資料種別: 学術論文

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Fuchs2006a.pdf (全文テキスト（全般）), 5KB
 
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Fuchs2006a.pdf
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非公開
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application/pdf
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Permission to make digital or hard copies of part or all of this work for personal or classroom use is granted without fee provided that copies are not made or distributed for profit or direct commercial advantage and that copies show this notice on the first page or initial screen of a display along with the full citation. Copyrights for components of this work owned by others than ACM must be honored. Abstracting with credit is permitted. To copy otherwise, to republish, to post on servers, to redistribute to lists, or to use any component of this work in other works requires prior specific permission and /or a fee. Permissions may be requested from Publications Dept., ACM, Inc., 2 Penn Plaza, Suite 701, New York, NY 10121-0701 USA, fax +1 (212) 869-0481, or permissions@acm.org. (c) 2007 ACM 0730-0301/2007/06-ART10 $5.00 DOI 10.1145/1243980.1243984 http://doi.acm.org/10.1145/1243980.1243984
CCライセンス:
-

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作成者

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 作成者:
Fuchs, Martin1, 著者           
Blanz, Volker1, 著者           
Lensch, Hendrik P. A.1, 著者           
Seidel, Hans-Peter1, 著者           
所属:
1Computer Graphics, MPI for Informatics, Max Planck Society, ou_40047              

内容説明

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キーワード: -
 要旨: Image-based relighting achieves high quality in rendering, but it requires a large number of measurements of the reflectance field. This article discusses sampling techniques that improve on the trade-offs between measurement effort and reconstruction quality. Specifically, we (i) demonstrate that sampling with point lights and from a sparse set of incoming light directions creates artifacts which can be reduced significantly by employing extended light sources for sampling, (ii) propose a sampling algorithm which incrementally chooses light directions adapted to the properties of the reflectance field being measured, thus capturing significant features faster than fixed-pattern sampling, and (iii) combine reflectance fields from two different light domain resolutions. We present an automated measurement setup for well-defined angular distributions of the incident, indirect illumination. It is based on programmable spotlights with controlled aperture that illuminate the walls around the scene.

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2008-03-132007
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 356536
DOI: 10.1145/1243980.1243984
その他: Local-ID: C12573CC004A8E26-137EDB39E9A2266BC1257364004C99E6-Fuchs2007a
 学位: -

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出版物 1

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出版物名: ACM Transactions on Graphics
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 26 (2) 通巻号: - 開始・終了ページ: 10.1 - 18 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0730-0301