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  Defects in oxide surfaces studied by atomic force and scanning tunneling microscopy

König, T., Simon, G. H., Heinke, L., Lichtenstein, L., & Heyde, M. (2011). Defects in oxide surfaces studied by atomic force and scanning tunneling microscopy. Beilstein Journal of Nanotechnology, 2, 1-14. doi:10.3762/bjnano.2.1.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-425E-2 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002B-27F8-8
Genre: Zeitschriftenartikel

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:
2190-4286-2-1.pdf (Verlagsversion), 7MB
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Datei-Permalink:
https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002B-27F7-A
Name:
2190-4286-2-1.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Öffentlich
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf / [MD5]
Technische Metadaten:
Öffnen
Copyright Datum:
2011
Copyright Info:
© 2011 König et al; licensee Beilstein-Institut.
Lizenz:
http://creativecommons.org/licenses/by/2.0/

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
König, Thomas1, Autor           
Simon, Georg Hermann1, Autor           
Heinke, Lars1, Autor           
Lichtenstein, Leonid1, Autor           
Heyde, Markus1, Autor           
Affiliations:
1Chemical Physics, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, Berlin, DE, ou_24022              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2011
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 14
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.3762/bjnano.2.1
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Beilstein Journal of Nanotechnology
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Frankfurt, Germany : Beilstein-Institut
Seiten: 14 Band / Heft: 2 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1 - 14 Identifikator: ISSN: 2190-4286