Beta decay measurements from 6He using an electrostatic ion beam trap

Aviv, O.; Vaintraub, S.; Hirsh, T.; Dhal, A.; Rappaport, M.L.; Melnik, D.; Heber, O.; Schwalm, Dirk; Zajfman, D.; Blaum, Klaus; Hass, M.

doi:10.1088/1742-6596/337/1/012020

Beta decay measurements from ⁶He using an electrostatic ion beam trap

Aviv, O., Vaintraub, S., Hirsh, T., Dhal, A., Rappaport, M., Melnik, D., Heber, O., Schwalm, D., Zajfman, D., Blaum, K., & Hass, M. (2012). Beta decay measurements from ⁶He using an electrostatic ion beam trap. Journal of Physics: Conference Series, 337:, pp. 1-3. doi:10.1088/1742-6596/337/1/012020.

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資料種別: 学術論文

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Aviv, O.¹, 著者
Vaintraub, S.^{1, 2}, 著者
Hirsh, T.^{1, 2}, 著者
Dhal, A.¹, 著者
Rappaport, M.L.¹, 著者
Melnik, D.², 著者
Heber, O.¹, 著者
Schwalm, Dirk³, 著者
Zajfman, D.¹, 著者
Blaum, Klaus³, 著者
Hass, M.¹, 著者

所属:
1Weizmann Institute of Science, Rehovot 76100, Israel, ou_persistent22
2Soreq Nuclear Research Center, Yavne 81800, Israel, ou_persistent22
3Division Prof. Dr. Klaus Blaum, MPI for Nuclear Physics, Max Planck Society, ou_904548

内容説明

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言語: eng - English

日付: オンライン出版: 2012-02-08

出版の状態: オンラインで出版済み

ページ: 3

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1088/1742-6596/337/1/012020

学位: -

訴訟

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出版物名: Journal of Physics: Conference Series

種別: 学術雑誌

著者・編者:

所属:

出版社, 出版地: Bristol : IOP Publ.

ページ: - 巻号: 337 通巻号: 012020 開始・終了ページ: 1 - 3 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 1742-6588
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/111097776606042

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