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  Pressure Dependence of Thickness and Refractive Index of Thin PMMA-Films Investigated by Surface Plasmon and Optical Waveguide Spectroscopy

Kleideiter, G., Lechner, M. D., & Knoll, W. (1999). Pressure Dependence of Thickness and Refractive Index of Thin PMMA-Films Investigated by Surface Plasmon and Optical Waveguide Spectroscopy. Macromolecular Chemistry and Physics, 200, 1028-1033.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-5296-3 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-5297-1
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Kleideiter, G.1, Autor           
Lechner, M. D., Autor
Knoll, Wolfgang1, Autor           
Affiliations:
1MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1309545              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 1999
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 321433
Anderer: P-99-52
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Macromolecular Chemistry and Physics
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 200 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1028 - 1033 Identifikator: -