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  Refractive Index and Thickness Determination of Monolayers by Multi Mode Waveguide Coupled Surface Plasmons

Weisser, M., Menges, B., & Mittler-Neher, S. (1999). Refractive Index and Thickness Determination of Monolayers by Multi Mode Waveguide Coupled Surface Plasmons. Sensors and Actuators B-Chemical, 56, 189-197.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-53BD-9 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-53BE-7
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Weisser, M.1, Autor           
Menges, B.1, Autor           
Mittler-Neher, Silvia1, Autor           
Affiliations:
1MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1309545              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 1999
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 324427
Anderer: P-99-99
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Sensors and Actuators B-Chemical
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 56 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 189 - 197 Identifikator: -