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The inverse electromechanical effect in mechanically oriented S-C*-elastomers examined by means of an ultra-stable Michelson interferometer

Lehmann, W., Gattinger, P., Keck, M., Kremer, F., Stein, P., Eckert, T., et al. (1998). The inverse electromechanical effect in mechanically oriented S-C*-elastomers examined by means of an ultra-stable Michelson interferometer. Ferroelectrics, 208(1-4), 373-383.

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-5741-E Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-5742-C

Genre: Zeitschriftenartikel

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Urheber

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Urheber:
Lehmann, W., Autor
Gattinger, P., Autor
Keck, M., Autor
Kremer, F.¹, Autor
Stein, P., Autor
Eckert, T., Autor
Finkelmann, H., Autor

Affiliations:
1MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1309545

Inhalt

Details

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Sprache(n): eng - English

Datum: Erschienen: 1998

Publikationsstatus: Erschienen

Seiten: -

Ort, Verlag, Ausgabe: -

Inhaltsverzeichnis: -

Art der Begutachtung: -

Identifikatoren: eDoc: 564406

Art des Abschluß: -

Veranstaltung

Entscheidung

Projektinformation

Quelle 1

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Titel: Ferroelectrics

Alternativer Titel : Ferroelectrics

Genre der Quelle: Zeitschrift

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Ort, Verlag, Ausgabe: -

Seiten: - Band / Heft: 208 (1-4) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 373 - 383 Identifikator: -