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  Multivariate characterization of ultra-thin nanofunctional plasma polymer films using ToF-SIMS analysis

von Gradowski, M., Wahl, M., Förch, R., & Hilgers, H. (2004). Multivariate characterization of ultra-thin nanofunctional plasma polymer films using ToF-SIMS analysis. Surface and Interface Analysis, 36(8), 1114-1118. doi:10.1002/sia.1853.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-5FFE-4 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-C45F-E
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
von Gradowski, M., 著者
Wahl, M., 著者
Förch, Renate1, 著者           
Hilgers, H., 著者
所属:
1MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1309545              

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2004
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 204200
その他: P-04-203
DOI: 10.1002/sia.1853
 学位: -

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訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Surface and Interface Analysis
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: New York, NY : John Wiley & Sons
ページ: - 巻号: 36 (8) 通巻号: - 開始・終了ページ: 1114 - 1118 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0142-2421
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925471358