Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
 
 
DownloadE-Mail
 Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht
  X-ray reflectivity study of an amphiphilic hexa-peri-hexabenzocoronene at a structured silicon wafer surface

Kubowicz, S., Thünemann, A. F., Geue, T. M., Pietsch, U., Watson, M. D., Tchebotareva, N., et al. (2003). X-ray reflectivity study of an amphiphilic hexa-peri-hexabenzocoronene at a structured silicon wafer surface. Langmuir, 19(26), 10997-10999. doi:10.1021/la035210e.

Item is

 

einblenden: alle ausblenden: alle

Basisdaten

einblenden: ausblenden:
Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-63D3-3 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0002-620A-5
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Kubowicz, S.1, Autor           
Thünemann, A. F., Autor
Geue, T. M., Autor
Pietsch, U., Autor
Watson, Mark D.2, Autor           
Tchebotareva, N.2, Autor           
Müllen, Klaus2, Autor           
Affiliations:
1Grenzflächen, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society, ou_1863287              
2MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1309545              

Inhalt

einblenden:

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 60538
Anderer: P-03-164
DOI: 10.1021/la035210e
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle 1

einblenden:
ausblenden:
Titel: Langmuir
  Kurztitel : Langmuir
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Columbus, OH : American Chemical Society
Seiten: - Band / Heft: 19 (26) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 10997 - 10999 Identifikator: ISSN: 0743-7463
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925541194