Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
Zur Ablage hinzufügen
 Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht
  In-situ Film Diagnostics during Plasma Polymerisation Using Waveguide Mode Spectroscopy

Jacobsen, V., Menges, B., Scheller, A., Förch, R., Mittler, S., & Knoll, W. (2001). In-situ Film Diagnostics during Plasma Polymerisation Using Waveguide Mode Spectroscopy. Surface and Coatings Technology, 142-144, 1105-1108.

Item is

 

einblenden: alle ausblenden: alle

Basisdaten

einblenden: ausblenden:
Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-692E-5 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-692F-3
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Jacobsen, V.1, Autor           
Menges, B.1, Autor           
Scheller, Andreas, Autor
Förch, Renate1, Autor           
Mittler, Silvia1, Autor           
Knoll, Wolfgang1, Autor           
Affiliations:
1MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1309545              

Inhalt

einblenden:

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum: 2001
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 271605
Anderer: P-01-116
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle 1

einblenden:
ausblenden:
Titel: Surface and Coatings Technology
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 142-144 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1105 - 1108 Identifikator: -