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Nanoelectronic Properties of a Model System and of a Conjugated Polymer: A Study by Kelvin Probe Force Microscopy and Scanning Conductive Torsion Mode Microscopy

Sun, L., Wang, J. J., & Bonaccurso, E. (2010). Nanoelectronic Properties of a Model System and of a Conjugated Polymer: A Study by Kelvin Probe Force Microscopy and Scanning Conductive Torsion Mode Microscopy. Journal of Physical Chemistry C, 114(15), 7161-7168.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-720E-A Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002B-00C2-9

Genre: Zeitschriftenartikel

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Urheber

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Urheber:
Sun, L.¹, Autor
Wang, J. J.¹, Autor
Bonaccurso, Elmar¹, Autor

Affiliations:
1MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1309545

Inhalt

Details

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Sprache(n): eng - English

Datum: Erschienen: 2010

Publikationsstatus: Erschienen

Seiten: -

Ort, Verlag, Ausgabe: -

Inhaltsverzeichnis: -

Art der Begutachtung: -

Identifikatoren: eDoc: 475532
Anderer: P-10-239

Art des Abschluß: -

Veranstaltung

Entscheidung

Projektinformation

Quelle 1

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Titel: Journal of Physical Chemistry C

Alternativer Titel : J. Phys. Chem. C

Genre der Quelle: Zeitschrift

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Ort, Verlag, Ausgabe: -

Seiten: - Band / Heft: 114 (15) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 7161 - 7168 Identifikator: -