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  Ballistic Electron Microscopy of Nanographene Layers

Feng, X. L., Chandrasekhar, N., Su, H. B., & Müllen, K. (2008). Ballistic Electron Microscopy of Nanographene Layers. Nano Letters, 8(12), 4259-4264.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-7B22-0 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0002-6859-6
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Feng, X. L.1, Autor           
Chandrasekhar, N., Autor
Su, H. B., Autor
Müllen, Klaus1, Autor           
Affiliations:
1MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1309545              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2008
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 398886
Anderer: P-08-247
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Nano Letters
  Alternativer Titel : Nano Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 8 (12) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 4259 - 4264 Identifikator: -