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  On the adhesion between fine particles and nanocontacts: An atomic force microscope study

Farshchi-Tabrizi, M., Kappl, M., Cheng, Y. J., Gutmann, J., & Butt, H.-J. (2006). On the adhesion between fine particles and nanocontacts: An atomic force microscope study. Langmuir, 22(5), 2171-2184. doi:10.1021/la052760z.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-7F46-2 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0029-4601-7
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Farshchi-Tabrizi, M.1, 著者           
Kappl, Michael2, 著者           
Cheng, Y. J.2, 著者           
Gutmann, Jochen2, 著者           
Butt, Hans-Jürgen2, 著者           
所属:
1Bu Ali Sina Univ, Hamedan, Iran, ou_persistent22              
2MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1309545              

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2006
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 260945
その他: P-06-202
DOI: 10.1021/la052760z
 学位: -

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訴訟

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出版物 1

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出版物名: Langmuir
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Columbus, OH : American Chemical Society
ページ: - 巻号: 22 (5) 通巻号: - 開始・終了ページ: 2171 - 2184 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0743-7463
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925541194