Atomic interferometer with amplitude gratings of light and its applications to 
atom based tests of the equivalence principle

Fray, Sebastian; Alvarez Diez, Cristina; Hänsch, T. W.; Weitz, Martin

doi:10.1103/PhysRevLett.93.240404

Atomic interferometer with amplitude gratings of light and its applications to atom based tests of the equivalence principle

Fray, S., Alvarez Diez, C., Hänsch, T. W., & Weitz, M. (2004). Atomic interferometer with amplitude gratings of light and its applications to atom based tests of the equivalence principle. Physical Review Letters, 93(24):. doi:10.1103/PhysRevLett.93.240404.

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資料種別: 学術論文

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Fray, Sebastian¹, 著者
Alvarez Diez, Cristina¹, 著者
Hänsch, T. W.¹, 著者
Weitz, Martin, 著者

所属:
1Laser Spectroscopy, Max Planck Institute of Quantum Optics, Max Planck Society, ou_1445568

内容説明

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言語: eng - English

日付: 出版: 2004-12-10

出版の状態: 出版

ページ: -

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査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 211023
ISI: 000225661100004
URI: http://link.aps.org/abstract/PRL/v93/e240404
DOI: 10.1103/PhysRevLett.93.240404
その他: 2943

学位: -

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出版物名: Physical Review Letters

出版物の別名 : Phys. Rev. Lett.

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 93 (24) 通巻号: 240404 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0031-9007

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