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  Analytical transmission electron microscopy

Sigle, W. (2005). Analytical transmission electron microscopy. Annual Review of Materials Research, 35, 239-314.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-27C3-6 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-27C4-4
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Sigle, W.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Ehemalige Abt. Rühle;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2005
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 240042
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Annual Review of Materials Research
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 35 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 239 - 314 Identifikator: -