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  Reversible orientation-biased grain growth in thin metal films induced by a focused ion beam

Spolenak, R., Sauter, L., & Eberl, C. (2005). Reversible orientation-biased grain growth in thin metal films induced by a focused ion beam. Scripta Materialia, 53, 1201-1296.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2862-7 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2863-5
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Spolenak, R.1, Autor           
Sauter, L.1, Autor           
Eberl, C.1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): spa - Spanish
 Datum: 2005
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 245418
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Scripta Materialia
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 53 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1201 - 1296 Identifikator: -