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  Dedicated Max Planck beamline for the in-situ investigation of interfaces and thin films

Stierle, A., Steinhäuser, A., Rühm, A., Renner, F., Weigel, R., Kasper, N., et al. (2004). Dedicated Max Planck beamline for the in-situ investigation of interfaces and thin films. Review of Scientific Instruments, 75(12), 5302-5307.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2889-2 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-288A-F
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Stierle, A.1, Autor           
Steinhäuser, A.2, Autor           
Rühm, A.2, Autor           
Renner, F.U.2, Autor           
Weigel, R.1, Autor           
Kasper, N.2, Autor           
Dosch, H.2, 3, Autor           
Affiliations:
1Former Central Scientific Facility ANKA Synchroton Beamline, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497651              
2Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645              
3Universität Stuttgart, Institut für Theoretische und Angewandte Physik, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Dosch; ZWE MF-ANKA-Beamline;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2004-11-17
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 210819
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Review of Scientific Instruments
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 75 (12) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 5302 - 5307 Identifikator: -