Variation of the electron inelastic mean free path during depth profiling of 
the Fe/Si interface as determined by quantitative REELS

Prieto, P.; Hofmann, S.; Elizalde, E.; Sanz, J. M.

Variation of the electron inelastic mean free path during depth profiling of the Fe/Si interface as determined by quantitative REELS

Prieto, P., Hofmann, S., Elizalde, E., & Sanz, J. M. (2004). Variation of the electron inelastic mean free path during depth profiling of the Fe/Si interface as determined by quantitative REELS. Surface and Interface Analysis, 36(10), 1392-1401.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-28B6-B 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-28B7-9

資料種別: 学術論文

その他のタイトル : Surf. Interface Anal.

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Prieto, P.¹, 著者
Hofmann, S.², 著者
Elizalde, E.¹, 著者
Sanz, J. M.¹, 著者

所属:
1Univ Autonoma Madrid, Dept Fis Aplicada 112, E-28049 Madrid, Spain.; ., ou_persistent22
2Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Emeriti and Others; electron IMFP; depth profiling; Fe/Si interface; REELS

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2004-10

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 213942
ISI: 000224589200005

学位: -

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出版物名: Surface and Interface Analysis

出版物の別名 : Surf. Interface Anal.

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 36 (10) 通巻号: - 開始・終了ページ: 1392 - 1401 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0142-2421

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