Quantitative Analyse von Bildkontrasten der Hochauflösenden 
Hochspannungselektronenmikroskopie

von Hochmeister, K.

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Quantitative Analyse von Bildkontrasten der Hochauflösenden Hochspannungselektronenmikroskopie

von Hochmeister, K. (2004). Quantitative Analyse von Bildkontrasten der Hochauflösenden Hochspannungselektronenmikroskopie. PhD Thesis, Universität Stuttgart, Stuttgart.

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Item Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-297E-3 Version Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-297F-1

Genre: Thesis

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von Hochmeister, K.¹, Author

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1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657

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Free keywords: MPI für Metallforschung; Ehemalige Abt. Rühle;

Abstract: -

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Language(s): deu - German

Dates: Accepted: 2004-02-13

Publication Status: Accepted / In Press

Pages: -

Publishing info: Stuttgart : Universität Stuttgart

Table of Contents: -

Rev. Type: -

Identifiers: eDoc: 174347
URI: http://elib.uni-stuttgart.de/opus/volltexte/2004/1988/

Degree: PhD

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